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高辨率X射線衍射儀
簡要描述：高辨率X射線衍射儀主要應用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結構分析、材料結構分析、晶體的取向性分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等。
產品型號： BXS05-TD-3500
所屬分類：質譜
更新時間：2024-12-08
廠商性質：生產廠家
詳情介紹
關鍵詞：BXS05-TD-3500高辨率X射線衍射儀
X射線衍射儀 高辨率衍射儀 衍射分析儀 衍射儀
產品介紹：
X 射線衍射儀主要應用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結構分析、材料結構分析、晶體的取向性分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等。
產品特點：
整機采用可編程序控制器 PLC 控制技術；操作方便，一鍵式采集系統(tǒng)；模塊化設計，配件即插即用，無需校準；觸摸屏實時在線監(jiān)測，顯示儀器狀態(tài)；高功率 X 射線發(fā)生器，性能穩(wěn)定可靠；電子鉛門聯(lián)鎖裝置，雙重防護，確保使用者安全。
技術參數(shù)：
掃描范圍：-110～161°；
掃描方式：透射、步進、連續(xù)、OMG；
最小步進角度：0.0001°；
2θ角重復精度：0.0001°；
全譜圖 2θ 角線性精度：≤±0.01°。
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