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渦流測厚儀 絕緣性覆蓋層測厚儀 陽極氧化膜測厚儀

簡要描述:渦流測厚儀 絕緣性覆蓋層測厚儀 陽極氧化膜測厚儀
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。

產(chǎn)品型號: BXS10-ED400

所屬分類:測厚儀

更新時間:2024-12-07

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹

渦流測厚儀 絕緣性覆蓋層測厚儀 陽極氧化膜測厚儀

型號:BXS10-ED400

ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進(jìn)型,儀器性能顯著提高。
      儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。

渦流測厚儀 絕緣性覆蓋層測厚儀 陽極氧化膜測厚儀     儀器特點(diǎn)
       ED400型渦流測厚儀與ED300型相比,具有如下特點(diǎn):
量程寬   ED400型渦流測厚儀量程達(dá)到0500μm。
精度高  測量精度達(dá)到2%。
分辨率高   分辨率達(dá)到0.1μm。
校正簡便   只校正“0”“50μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
基體導(dǎo)電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量誤差不大于12μm。
可靠性提高  采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。
穩(wěn)定性提高   采用的溫度補(bǔ)償技術(shù),測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
探頭芯壽命長   采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延長。
探頭可互換  外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。

技術(shù)參數(shù):

測量范圍:     0500μm
測量精度:     050μm±1μm
                    50500μm±2%
率:      050μm0.1μm;
                    50500μm1μm;
                    0500μm1μm(可選)
使用溫度:     545
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
      量:     280g

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)            
探頭            
基體(6063鋁合金)
校正箔片   一套4片(附檢測報告)
儀器箱

可選附件

備用探頭
基體
校正箔片(附檢測報告)



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